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国立国会図書館デジタルコレクション
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目次
CONTENTS/
Semiconductors//1217~
Copper Precipitation at the Silicon-Silicon-Dioxide Interface: Role of Oxygen/Antonio CORREIA ; Dominique BALLUTAUD ; Jean-Luc MAURICE/1217~
Effects of Electron Beam Damage on the Electrical Characteristics of n-type Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect-Transistors/Young Jin JEON ; Sin-Chong PARK ; Soung Soon CHUN/1223~
High-Resolution Transmission Electron Microscopy of Si/Ge Interfacial Structures/Nobuyuki IKARASHI ; Toru TATSUMI ; Koichi ISHIDA/1228~
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書誌情報
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- 資料種別
- 雑誌
- ISSN
- 0021-4922
- ISSN-L
- 0021-4922
- 巻次・部編番号
- Part. 1Part. 133(3A)(397);MARCH 1994
- 部編名
- Regular papers, brief communications & review papers : JJAP
- 出版年月日等
- 1994-03
- 出版年(W3CDTF)
- 1994-03