図書

Defects-recognition, imaging and physics in semiconductors 14 : selected, peer reviewed papers from the 14th international conference on defects-recognition, imaging and physics in semiconductors, September 25-29, 2011, Miyazaki, Japan : DRIP-14 : DRIP : Sep 2011, Miyazaki, Japan. (Materials Science Forum ; 725)

図書を表すアイコン

Defects-recognition, imaging and physics in semiconductors 14 : selected, peer reviewed papers from the 14th international conference on defects-recognition, imaging and physics in semiconductors, September 25-29, 2011, Miyazaki, Japan : DRIP-14 : DRIP : Sep 2011, Miyazaki, Japan.

(Materials Science Forum ; 725)

国立国会図書館請求記号
M17-13-285
国立国会図書館書誌ID
023893005
資料種別
図書
著者
International Conference on Defects: Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors (2011 : Miyazaki, Japan)ほか
出版者
Trans Tech Publications
出版年
c2012.
資料形態
ページ数・大きさ等
xiii, 299 p. ; 25 cm.
NDC
-
すべて見る

資料に関する注記

一般注記:

Selected papers.

形態の詳細:

ill.

書店で探す

書誌情報

この資料の詳細や典拠(同じ主題の資料を指すキーワード、著者名)等を確認できます。

資料種別
図書
ISSN(シリーズ)
02555476
シリーズタイトル
出版年月日等
c2012.
出版年(W3CDTF)
2012
数量
xiii, 299 p.