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資料種別 会議録

Defects-recognition, imaging and physics in semiconductors 14 : selected, peer reviewed papers from the 14th international conference on defects-recognition, imaging and physics in semiconductors, September 25-29, 2011, Miyazaki, Japan : DRIP-14 : DRIP : Sep 2011, Miyazaki, Japan

詳細情報

タイトル Defects-recognition, imaging and physics in semiconductors 14 : selected, peer reviewed papers from the 14th international conference on defects-recognition, imaging and physics in semiconductors, September 25-29, 2011, Miyazaki, Japan : DRIP-14 : DRIP : Sep 2011, Miyazaki, Japan
シリーズ名 Materials Science Forum, 725
出版地(国名コード) CH
出版地Durnten-Zurich
出版社Trans Tech Publications
出版年月日等 c2012
大きさ、容量等 xiii, 299 p. : ill. ; 25 cm
注記 Selected papers
注記 Includes bibliographical references and indexes
ISSN 02555476
出版年(W3CDTF) 2012
件名(キーワード) Semiconductors--Defects--Congresses
件名(キーワード) Image processing--Congresses
件名(キーワード) Defects recognition
件名(キーワード) Imaging
件名(キーワード) Semicoductors
件名(キーワード) DRIP
NDLC M17
対象利用者 一般
資料の種別 図書
資料の種別 会議録
言語(ISO639-2形式) eng : English

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