図書
タイトル | LSI故障解析技術 |
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著者 | 二川清 著 |
著者標目 | 二川, 清, 1949- |
出版地(国名コード) | JP |
出版地 | 東京 |
出版社 | 日科技連出版社 |
出版年月日等 | 2011.9 |
大きさ、容量等 | 194p ; 21cm |
注記 | 「LSI故障解析技術のすべて」 (工業調査会2007年刊) の新版 |
注記 | 文献あり |
ISBN | 9784817194145 |
価格 | 3400円 |
JP番号 | 21988485 |
別タイトル | LSI故障解析技術のすべて |
出版年(W3CDTF) | 2011 |
件名(キーワード) | 大規模集積回路 |
NDLC | ND386 |
NDC(9版) | 549.7 : 電子工学 |
対象利用者 | 一般 |
資料の種別 | 図書 |
言語(ISO639-2形式) | jpn : 日本語 |