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イオン ・電子デユアル収束ビームによる表面・局所分析法の開発

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イオン ・電子デユアル収束ビームによる表面・局所分析法の開発

国立国会図書館請求記号
Y151-H06555254
国立国会図書館書誌ID
000006997503
資料種別
図書
著者
二瓶, 好正, 東京大学
出版者
-
出版年
1994-1996
資料形態
ページ数・大きさ等
-
NDC
-
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資料に関する注記

一般注記:

文部省科学研究費補助金研究成果報告書

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書誌情報

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資料種別
図書
タイトルよみ
イオン ・ デンシ デユアル シュウソク ビーム ニ ヨル ヒョウメン ・ キョクショ ブンセキホウ ノ カイハツ
著者・編者
二瓶, 好正, 東京大学
著者標目
二瓶, 好正, 1940- ニヘイ, ヨシマサ, 1940- ( 00216119 )典拠
出版年月日等
1994-1996
出版年(W3CDTF)
1994
数量
その他のタイトル
研究種目 試験研究(B)
件名標目
二次イオン質量分析法 ニジイオンシツリヨウブンセキホウ
オージエ電子分光法 オージエデンシブンコウホウ
収束イオンビーム シユウソクイオンビーム
三次元元素分析 3ジゲンゲンソブンセキ
微粒子 ビリユウシ