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半導体材料の核融合中性子照射効果ダイナミクスの研究

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半導体材料の核融合中性子照射効果ダイナミクスの研究

国立国会図書館請求記号
Y151-H05558068
国立国会図書館書誌ID
000006992269
資料種別
図書
著者
飯田, 敏行, 大阪大学
出版者
-
出版年
1993-1995
資料形態
ページ数・大きさ等
-
NDC
-
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資料に関する注記

一般注記:

文部省科学研究費補助金研究成果報告書

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書誌情報

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資料種別
図書
タイトルよみ
ハンドウタイ ザイリョウ ノ カク ユウゴウ チュウセイシ ショウシャ コウカ ダイナミクス ノ ケンキュウ
著者・編者
飯田, 敏行, 大阪大学
著者標目
著者 : 飯田, 敏行 イイダ, トシユキ ( 01015281 )典拠
大阪大学 オオサカ ダイガク ( 00296951 )典拠
出版年月日等
1993-1995
出版年(W3CDTF)
1993
数量
その他のタイトル
研究種目 試験研究(B)
件名標目
CMOS・SRAM素子 CMOS・SRAMソシ
中性子誘起ソフトエラー チユウセイシユウキソフトエラー
Si (n, α) Mg反応 SI (N, アルフア) MGハンノウ
ビツトソフトエラー断面積 ビツトソフトエラーダンメンセキ
極細イオンビーム源 ゴクボソイオンビームゲン
Si-SSD素子 SI-SSDソシ
TRIMコード TRIMコード
DT-DD中性子損傷相関 DT-DDチユウセイシソンシヨウソウカン