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資料種別 図書

高分解能電子顕微鏡を用いた回折コントラスト法による微小点欠陥集合体の解析

義家敏正, 京都大学 [著]

詳細情報

タイトル 高分解能電子顕微鏡を用いた回折コントラスト法による微小点欠陥集合体の解析
著者 義家敏正, 京都大学 [著]
出版社[義家敏正]
出版年月日等 1991-1992
注記 文部省科学研究費補助金研究成果報告書
科研費課題番号 03805057
別タイトル The analysis of small point defect clusters by diffraction contrast image using high resolution electron microscopy
別タイトル 研究種目 一般研究(C)
出版年(W3CDTF) 1991
出版年(W3CDTF) 1992
件名(キーワード) Diffraction contrast image / High resolution electron microscopy / Malti slice method / Radiation damage defect structure / Small point defect clusters / Weak beam method / マルチスライス法 / 回折コントラスト像 / 弱ビーム法 / 微小点欠陥集合体 / 構造像 / 照射損傷発達過程 / 積層欠陥四面体 / 高分解能回折コントラスト像 / 高分解能電子顕微鏡
NDLC Y151
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