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超微小MOS素子の信頼性とテレグラフ雑音発生機構の研究

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超微小MOS素子の信頼性とテレグラフ雑音発生機構の研究

国立国会図書館請求記号
Y151-H01550248
国立国会図書館書誌ID
000006975284
資料種別
図書
著者
谷口, 研二, 大阪大学
出版者
-
出版年
1989-1990
資料形態
ページ数・大きさ等
-
NDC
-
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資料に関する注記

一般注記:

文部省科学研究費補助金研究成果報告書

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書誌情報

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資料種別
図書
タイトルよみ
チョウビショウ MOS ソシ ノ シンライセイ ト テレグラフ ザツオン ハッセイ キコウ ノ ケンキュウ
著者・編者
谷口, 研二, 大阪大学
著者標目
谷口, 研二, 1948- タニクチ, ケンジ, 1948- ( 00176969 )典拠
出版年月日等
1989-1990
出版年(W3CDTF)
1989
数量
その他のタイトル
研究種目 一般研究(C)
件名標目
微小MOSFET ビシヨウMOSFET
キヤリア捕獲中心 キヤリアホカクチユウシン
スケーリング スケーリング