規格・テクニカルリポート類

Probability of Detection of Defects in Coatings with Electronic Shearography NASA-TM-108493 N95-29374

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Probability of Detection of Defects in Coatings with Electronic Shearography

NASA-TM-108493 N95-29374

国立国会図書館請求記号
LS-N95/29374
国立国会図書館書誌ID
000005519632
資料種別
規格・テクニカルリポート類
著者
-
出版者
-
出版年
1995
資料形態
マイクロ
ページ数・大きさ等
22 p. (1 microfiche)
NDC
-
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書誌情報

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マイクロ

資料種別
規格・テクニカルリポート類
出版年月日等
1995
出版年(W3CDTF)
1995
数量
22 p. (1 microfiche)
資料種別(注記)
[microform]
リポート番号
テクニカルリポート番号 : NASA-TM-108493
テクニカルリポート番号 : N95-29374
所蔵機関
国立国会図書館
請求記号
LS-N95/29374
連携機関・データベース
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