OBIC analysis of stressed, thermally-isolated polysilicon resistors SAND-94-2464C DE95 008511 CONF-9504321

OBIC analysis of stressed, thermally-isolated polysilicon resistors

SAND-94-2464C DE95 008511 CONF-9504321

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資料種別: 規格・テクニカルリポート類
タイトル: OBIC analysis of stressed, thermally-isolated polysilicon resistors
著者・編者: Cole, E. I
Peterson, K. A
Campbell, A. N
Snyder, E. S
Pierce, D. G
出版年月日等: 1994
出版年（W3CDTF）: 1994
数量: 10 p. (1 microfiche)
資料種別（注記）: [microform]
リポート番号: テクニカルリポート番号 : SAND-94-2464C
テクニカルリポート番号 : DE95 008511
テクニカルリポート番号 : CONF-9504321
所蔵機関: 国立国会図書館
請求記号: LS-DE95/008511
連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書
https://ndlsearch.ndl.go.jp
書誌ID（NDLBibID）: 000005518169
http://id.ndl.go.jp/bib/000005518169
整理区分コード: 291