規格・テクニカルリポート類

X-ray diffraction characterization of defect behavior in nanocrystalline nickel during annealing ANL/MSD/CP-82603 DE95 002992 CONF-9410391

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X-ray diffraction characterization of defect behavior in nanocrystalline nickel during annealing

ANL/MSD/CP-82603 DE95 002992 CONF-9410391

国立国会図書館請求記号
LS-DE95/002992
国立国会図書館書誌ID
000005511372
資料種別
規格・テクニカルリポート類
著者
Eastman, J. Aほか
出版者
-
出版年
1994
資料形態
マイクロ
ページ数・大きさ等
5 p. (1 microfiche)
NDC
-
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書誌情報

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マイクロ

資料種別
規格・テクニカルリポート類
著者・編者
Eastman, J. A
Beno, M. A
Knapp, G. S
Thompson, L. J
出版年月日等
1994
出版年(W3CDTF)
1994
数量
5 p. (1 microfiche)
資料種別(注記)
[microform]
リポート番号
テクニカルリポート番号 : ANL/MSD/CP-82603
テクニカルリポート番号 : DE95 002992
テクニカルリポート番号 : CONF-9410391
所蔵機関
国立国会図書館
請求記号
LS-DE95/002992