High-resolution millimeter-wave imaging system for defect characterization in dielectric slabs ANL/ET/CP-81718 DE94 016300 CONF-94072311

High-resolution millimeter-wave imaging system for defect characterization in dielectric slabs

ANL/ET/CP-81718 DE94 016300 CONF-94072311

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資料種別: 規格・テクニカルリポート類
タイトル: High-resolution millimeter-wave imaging system for defect characterization in dielectric slabs
著者・編者: Bakhtiari, S
Gopalsami, N
Raptis, A. C
Lepper, M. J
出版年月日等: 1994
出版年（W3CDTF）: 1994
数量: 11 p. (1 microfiche)
資料種別（注記）: [microform]
リポート番号: テクニカルリポート番号 : ANL/ET/CP-81718
テクニカルリポート番号 : DE94 016300
テクニカルリポート番号 : CONF-94072311
所蔵機関: 国立国会図書館
請求記号: LS-DE94/016300
連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書
https://ndlsearch.ndl.go.jp
書誌ID（NDLBibID）: 000005499395
http://id.ndl.go.jp/bib/000005499395
整理区分コード: 291