製品の幾何特性仕様(GPS)--座標測定機(CMM)の受入検査及び定期検査--第3部:ロータリテーブル付き座標測定機 JIS B 7440-3:2003

製品の幾何特性仕様(GPS)--座標測定機(CMM)の受入検査及び定期検査--第3部:ロータリテーブル付き座標測定機

JIS B 7440-3:2003

国立国会図書館請求記号: M-JIS B 7440-3:2003
国立国会図書館書誌ID: 000004068234

資料種別: 規格・テクニカルリポート類

著者: [日本工業規格(JIS)]

出版者: -

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資料形態: 紙

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書誌情報

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紙

資料種別: 規格・テクニカルリポート類
タイトル: 製品の幾何特性仕様(GPS)--座標測定機(CMM)の受入検査及び定期検査--第3部:ロータリテーブル付き座標測定機
著者・編者: [日本工業規格(JIS)]
規格番号: JIS B 7440-3:2003
参照規格番号: ISO 10360-3:2000
所蔵機関: 国立国会図書館
請求記号: M-JIS B 7440-3:2003
連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書
https://ndlsearch.ndl.go.jp
書誌ID（NDLBibID）: 000004068234
http://id.ndl.go.jp/bib/000004068234
整理区分コード: 291

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