半導体デバイスの静電気破壊現象とその評価方法に関する調査研究成果報告書
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書誌情報
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- 資料種別
- 図書
- タイトルよみ
- ハンドウタイ デバイス ノ セイデンキ ハカイ ゲンショウ ト ソノ ヒョウカ ホウホウ ニ カンスル チョウサ ケンキュウ セイカ ホウコクショ
- 著者標目
- 日本電子部品信頼性センター ニホン デンシ ブヒン シンライセイ センター ( 00293467 )典拠
- 出版年月日等
- 1985.3
- 出版年（W3CDTF）
- 1985
- 数量
- 87p
- 大きさ
- 26cm
- 出版地（国名コード）
- JP