記事・論文
| 题名 | Electron microscopic and diffraction study of silicon oxide film |
|---|---|
| 著者 | Sugata E |
| 出版地（国名编码） | JP |
| 出版地 | 東京 |
| 出版社 | 日本電子顕微鏡学会 |
| 出版年月日等 | 10(1) 1961.04 |
| 出版年(W3CDTF) | 1961-04 |
| NDLC | ZN33 |
| 阅读对象 | 一般 |
| 资料的类别 | 記事・論文 |
| 刊载杂志的信息 (URI形式) | https://iss.ndl.go.jp/books/R100000002-I000000015810-00 |
| 刊载杂志的信息 (ISSN形式) | 00220744 |
| 刊载杂志的信息 (ISSN-L形式) | 00220744 |
| 刊载杂志名 | 電子顕微鏡学会誌 |
| 刊载卷 | 10 |
| 刊载号 | 1 |
| 刊载页 | ???? |
