記事・論文
| 타이틀 | Electron microscopic and diffraction study of silicon oxide film |
|---|---|
| 책임표시 | Sugata E |
| 출판 지명(국명 코드) | JP |
| 출판 지명 | 東京 |
| 출판사 | 日本電子顕微鏡学会 |
| 출판 연월일 등 | 10(1) 1961.04 |
| 출판 년도(W3CDTF) | 1961-04 |
| NDLC | ZN33 |
| 대상이용자 | 一般 |
| 자료 종별 | 記事・論文 |
| 게재지 정보. (URI 형식) | https://iss.ndl.go.jp/books/R100000002-I000000015810-00 |
| 게재지 정보. (ISSN 형식) | 00220744 |
| 게재지 정보. (ISSN-L 형식) | 00220744 |
| 게재지명 | 電子顕微鏡学会誌 |
| 게재 권 | 10 |
| 게재 호 | 1 |
| 게재 페이지 | ???? |
