記事・論文
| タイトル | Electron microscopic and diffraction study of silicon oxide film |
|---|---|
| 著者 | Sugata E |
| 出版地（国名コード） | JP |
| 出版地 | 東京 |
| 出版社 | 日本電子顕微鏡学会 |
| 出版年月日等 | 10(1) 1961.04 |
| 出版年(W3CDTF) | 1961-04 |
| NDLC | ZN33 |
| 対象利用者 | 一般 |
| 資料の種別 | 記事・論文 |
| 掲載誌情報（URI形式） | https://iss.ndl.go.jp/books/R100000002-I000000015810-00 |
| 掲載誌情報（ISSN形式） | 00220744 |
| 掲載誌情報（ISSN-L形式） | 00220744 |
| 掲載誌名 | 電子顕微鏡学会誌 |
| 掲載巻 | 10 |
| 掲載号 | 1 |
| 掲載ページ | ???? |
