記事・論文
| タイトル | シリコン,ゲルマニウム単結晶の破砕層 X線2回反射積分強度測定による検討 |
|---|---|
| 著者 | 加藤 一郎 他 |
| 出版地（国名コード） | JP |
| 出版年(W3CDTF) | 1964-12 |
| NDLC | ZN31 |
| 対象利用者 | 一般 |
| 資料の種別 | 記事・論文 |
| 掲載誌情報（URI形式） | https://iss.ndl.go.jp/books/R100000002-I000000016652-00 |
| 掲載誌情報（ISSN形式） | 03720462 |
| 掲載誌情報（ISSN-L形式） | 03720462 |
| 掲載誌名 | 東芝レビュー = Toshiba review / 東芝ビジネスエキスパート株式会社ビジネスソリューション事業部 編集・制作 |
| 掲載巻 | 19 |
| 掲載号 | 12 |
| 掲載ページ | ???? |
