記事・論文
| タイトル | 第4世代のテスト・プロセス |
|---|---|
| 著者 | 山浦 恒央 |
| 出版地（国名コード） | JP |
| 出版年(W3CDTF) | 2006-01 |
| NDLC | ZM13 |
| 対象利用者 | 一般 |
| 資料の種別 | 記事・論文 |
| 関連資料（URI形式） | http://dl.ndl.go.jp/info:ndljp/pid/11105027 |
| 掲載誌情報（URI形式） | https://iss.ndl.go.jp/books/R100000002-I000007603665-00 |
| 掲載誌情報（ISSN形式） | 13498622 |
| 掲載誌情報（ISSN-L形式） | 13498622 |
| 掲載誌名 | SEC journal / 情報処理推進機構技術本部ソフトウェア・エンジニアリング・センター 編 |
| 掲載巻 | 2 |
| 掲載号 | 1 |
| 掲載通号 | 5 |
| 掲載ページ | 6～15 |
| 言語（ISO639-2形式） | jpn : 日本語 |
