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資料種別 記事・論文

Effect of hydrogen annealing on electrical properties of Bi-layered perovskite thin films

Chun Keun Kim,Ik-Soo Kim,Hoon Sang Choi 他

詳細情報

タイトル Effect of hydrogen annealing on electrical properties of Bi-layered perovskite thin films
著者 Chun Keun Kim
著者 Ik-Soo Kim
著者 Hoon Sang Choi 他
シリーズ名 AWAD2002(Asia-Pacific Workshop on Fundamental and Application of Advanced Semiconductor Devices)
出版地(国名コード) JP
出版年(W3CDTF) 2002-07-01
件名(キーワード) interface trap
件名(キーワード) curie temperature
NDLC ZN33
対象利用者 一般
資料の種別 記事・論文
掲載誌情報(URI形式) https://iss.ndl.go.jp/books/R100000002-I000000050569-00
掲載誌情報(ISSN形式) 09135685
掲載誌情報(ISSN-L形式) 09135685
掲載誌名 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
掲載巻 102
掲載号 175
掲載ページ 155~158
言語(ISO639-2形式) eng : English

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