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資料種別 記事・論文

First application of a spherical-aberration corrected transmission electron microscope in materials science

Bernd Kabius,Max Haider,Stefan Uhlemann 他

詳細情報

タイトル First application of a spherical-aberration corrected transmission electron microscope in materials science
著者 Bernd Kabius
著者 Max Haider
著者 Stefan Uhlemann 他
シリーズ名 Eighth Conference on Frontiers of Electron Microscopy in Materials Science
出版地(国名コード) GB
出版年(W3CDTF) 2002
件名(キーワード) TEM
件名(キーワード) aberrations
件名(キーワード) Cs correction
件名(キーワード) contrast delocalization
件名(キーワード) interfaces
件名(キーワード) silicides
NDLC ZN33
対象利用者 一般
資料の種別 記事・論文
掲載誌情報(URI形式) https://iss.ndl.go.jp/books/R100000002-I000000129291-00
掲載誌情報(ISSN形式) 00220744
掲載誌名 Journal of electron microscopy
掲載巻 51
掲載巻 Suppl
掲載号 -
掲載ページ S51~58
言語(ISO639-2形式) eng : English

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