記事・論文
| タイトル | Atomically Resolved Imaging of Si(100)2×1, 2×1:H and 1×1:2H Surfaces with Noncontact Atomic Force Microscopy |
|---|---|
| 著者 | Seizo Morita |
| 著者 | Yasuhiro Sugawara |
| シリーズ名 | Special Issue Scanning Probe Microscopy |
| 出版地（国名コード） | JP |
| 出版年(W3CDTF) | 2002-07 |
| 件名（キーワード） | atomic force microscope |
| 件名（キーワード） | AFM |
| 件名（キーワード） | atomic resolution |
| 件名（キーワード） | noncontact atomic force microscope |
| 件名（キーワード） | NC-AFM |
| NDLC | ZM35 |
| 対象利用者 | 一般 |
| 資料の種別 | 記事・論文 |
| 掲載誌情報（URI形式） | https://iss.ndl.go.jp/books/R100000002-I000000159719-00 |
| 掲載誌情報（ISSN形式） | 00214922 |
| 掲載誌情報（ISSN-L形式） | 00214922 |
| 掲載誌名 | Japanese journal of applied physics. Part. 1, Regular papers, brief communications & review papers : JJAP |
| 掲載巻 | 41 |
| 掲載巻 | Special Issue |
| 掲載号 | 7B |
| 掲載通号 | 562 |
| 掲載ページ | 4857～4862 |
| 言語（ISO639-2形式） | eng : English |
