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資料種別 記事・論文

Thermal Stability of GaAs/InAs/GaAs Heterostructure Studied by X-Ray Crystal Truncation Rod Scattering Measurement

Masao Tabuchi,Munetaka Araki,Yoshikazu Takeda

詳細情報

タイトル Thermal Stability of GaAs/InAs/GaAs Heterostructure Studied by X-Ray Crystal Truncation Rod Scattering Measurement
著者 Masao Tabuchi
著者 Munetaka Araki
著者 Yoshikazu Takeda
シリーズ名 Special Issue: Indium Phosphide and Related Materials
出版地(国名コード) JP
出版年(W3CDTF) 2002-02
件名(キーワード) X-ray CTR
件名(キーワード) MBE
件名(キーワード) diffusion of In
件名(キーワード) diffusion of vacancies
NDLC ZM35
対象利用者 一般
資料の種別 記事・論文
掲載誌情報(URI形式) https://iss.ndl.go.jp/books/R100000002-I000000159719-00
掲載誌情報(ISSN形式) 00214922
掲載誌情報(ISSN-L形式) 00214922
掲載誌名 Japanese journal of applied physics. Part. 1, Regular papers, brief communications & review papers : JJAP
掲載巻 41
掲載巻 Special Issue
掲載号 2B
掲載通号 552
掲載ページ 1090~1093
言語(ISO639-2形式) eng : English

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