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New calibration procedure for absolute temperature measurement on electronic devices, by means of thermoreflectance technique (Photoacoustic and Photothermal Phenomena--11th International Conference Kyoto, Japan June 2000)

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New calibration procedure for absolute temperature measurement on electronic devices, by means of thermoreflectance technique

(Photoacoustic and Photothermal Phenomena--11th International Conference Kyoto, Japan June 2000)

国立国会図書館請求記号
Z54-F482
国立国会図書館書誌ID
5770956
資料種別
記事
著者
Emmanuel Schaub
出版者
Tokyo : Japan Society for Analytical Chemistry
出版年
2001
資料形態
掲載誌名
Analytical Sciences 17(-) (通号 107) (Special Issue) 2001
掲載ページ
p.s443~446
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書誌情報

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資料種別
記事
著者・編者
Emmanuel Schaub
著者標目
タイトル(掲載誌)
Analytical Sciences
巻号年月日等(掲載誌)
17(-) (通号 107) (Special Issue) 2001
掲載巻
17
掲載号
-
掲載通号
107