記事・論文
| タイトル | 制御継電器での電気接点損傷に関する数値評価研究(その15)AgCdO12wt%電気接点対での開離責務接点の損傷と閉成責務接点の損傷との比較 |
|---|---|
| 著者 | 渡邊 隆志 |
| 著者 | 守永 和史 |
| 著者 | 秋山 健司 他 |
| 出版地（国名コード） | JP |
| 出版年(W3CDTF) | 2000-02-18 |
| 件名（キーワード） | 開離動作責務 |
| 件名（キーワード） | 閉成動作責務 |
| 件名（キーワード） | アーク放電 |
| 件名（キーワード） | 転移突起 |
| 件名（キーワード） | 皮膜 |
| 件名（キーワード） | Ag/CdO電気接点 |
| 件名（キーワード） | break-only-operations |
| 件名（キーワード） | make-only-operations |
| 件名（キーワード） | arc discharge |
| 件名（キーワード） | transferred pip |
| 件名（キーワード） | film |
| 件名（キーワード） | Ag/CdO contacts |
| NDLC | ZN33 |
| 対象利用者 | 一般 |
| 資料の種別 | 記事・論文 |
| 掲載誌情報（URI形式） | https://iss.ndl.go.jp/books/R100000002-I000000050569-00 |
| 掲載誌情報（ISSN形式） | 09135685 |
| 掲載誌情報（ISSN-L形式） | 09135685 |
| 掲載誌名 | 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 |
| 掲載巻 | 99 |
| 掲載通号 | 643 |
| 掲載ページ | 13～18 |
| 言語（ISO639-2形式） | jpn : 日本語 |
