動的故障像を用いたロジックLSIの故障箇所特定手法の開発と応用事例 (LSIの評価・解析技術特集 ; ロジックLSIの故障・不良解析技術)
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書誌情報
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- 資料種別
- 記事
- 著者・編者
- 中村 豊一大金 秀治黒田 英彦 他
- タイトル（掲載誌）
- NEC技報 = NEC technical journal / NECマネジメントパートナー株式会社 編
- 巻号年月日等（掲載誌）
- 50(6) 1997.07
- 掲載巻
- 50
- 掲載号
- 6
- 掲載ページ
- 16～20,図巻頭1p