Novel Method for Monitoring the Surface Roughness during Molecular Beam Epitaxy

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Novel Method for Monitoring the Surface Roughness during Molecular Beam Epitaxy

国立国会図書館請求記号
Z53-A375
国立国会図書館書誌ID
4187830
資料種別
記事
著者
Ray-Ming Linほか
出版者
Tokyo : Published by the Japan Society of Applied Physics through the Institute of Pure and Applied Physics
出版年
1997-03
資料形態
デジタル
掲載誌名
Japanese journal of applied physics. Part. 1, Regular papers, brief communications & review papers : JJAP 36(3A) 1997.03
掲載ページ
p.984~986
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書誌情報

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デジタル

資料種別
記事
著者・編者
Ray-Ming Lin
Si-Chen Lee
タイトル(掲載誌)
Japanese journal of applied physics. Part. 1, Regular papers, brief communications & review papers : JJAP
巻号年月日等(掲載誌)
36(3A) 1997.03
掲載巻
36
掲載号
3A
掲載ページ
984~986
掲載年月日(W3CDTF)
1997-03