Evaluation of Dielectric Strength and Breakdown Behavior for Sr-,Nb-Doped PZT Ceramics with Various Shapes of Electrodes

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Evaluation of Dielectric Strength and Breakdown Behavior for Sr-,Nb-Doped PZT Ceramics with Various Shapes of Electrodes

国立国会図書館請求記号
Z17-249
国立国会図書館書誌ID
4184879
資料種別
記事
著者
谷 孝夫ほか
出版者
東京 : 日本セラミックス協会
出版年
1997-04
資料形態
掲載誌名
日本セラミックス協会学術論文誌 / 日本セラミックス協会 [編] 105(1220) 1997.04
掲載ページ
p.308~311
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書誌情報

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デジタル

資料種別
記事
著者・編者
谷 孝夫
浅井 満
鷹取 一雅 他
並列タイトル等
種々の電極形状を持つSr,Nb添加PZTセラミックスの絶縁破壊挙動
タイトル(掲載誌)
日本セラミックス協会学術論文誌 / 日本セラミックス協会 [編]
巻号年月日等(掲載誌)
105(1220) 1997.04
掲載巻
105
掲載号
1220
掲載ページ
308~311