位相シフト干渉法によ...

位相シフト干渉法による非接触表面粗さ測定--(米)WYKO社製TOPO表面粗さ計 (オプトメカトロニクス時代の超精密切削技術 ; 超精密切削面測定装置(付属資料))

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位相シフト干渉法による非接触表面粗さ測定--(米)WYKO社製TOPO表面粗さ計(オプトメカトロニクス時代の超精密切削技術 ; 超精密切削面測定装置(付属資料))

国立国会図書館請求記号
Z15-362
国立国会図書館書誌ID
3807662
資料種別
記事
著者
深江 秀和
出版者
東久留米 : 光学工業技術協会
出版年
1991-09
資料形態
デジタル
掲載誌名
光技術コンタクト = Optical and electro-optical engineering contact (通号 臨時増刊) 1991.09
掲載ページ
p.p299~307
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デジタル

資料種別
記事
著者・編者
深江 秀和
著者標目
タイトル(掲載誌)
光技術コンタクト = Optical and electro-optical engineering contact
巻号年月日等(掲載誌)
(通号 臨時増刊) 1991.09
掲載通号
臨時増刊
掲載ページ
p299~307
掲載年月日(W3CDTF)
1991-09