イオンスパッタリング...

イオンスパッタリングによる深さ方向分析 (表面の評価技術<特集> ; 表面,界面の組成分析)

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イオンスパッタリングによる深さ方向分析

(表面の評価技術<特集> ; 表面,界面の組成分析)

国立国会図書館請求記号
Z15-138
国立国会図書館書誌ID
3127245
資料種別
記事
著者
梶原 和夫
出版者
東京 : 日本結晶学会
出版年
1987-03
資料形態
掲載誌名
日本結晶学会誌 = Journal of the Crystallographic Society of Japan 29(2) 1987.03
掲載ページ
p.p87~92
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デジタル

資料種別
記事
著者・編者
梶原 和夫
著者標目
タイトル(掲載誌)
日本結晶学会誌 = Journal of the Crystallographic Society of Japan
巻号年月日等(掲載誌)
29(2) 1987.03
掲載巻
29
掲載号
2
掲載ページ
p87~92