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資料種別 記事・論文

大規模アレイTEGを用いた長時間測定によるランダム・テレグラフ・シグナルの統計的評価

藤澤 孝文,阿部 健一,渡部 俊一 他

詳細情報

タイトル 大規模アレイTEGを用いた長時間測定によるランダム・テレグラフ・シグナルの統計的評価
著者 藤澤 孝文
著者 阿部 健一
著者 渡部 俊一 他
シリーズ名 シリコン材料・デバイス
出版地(国名コード) JP
別タイトル Statistical analysis of random telegraph signal using a large-scale array TEG with a long time measurement
出版年(W3CDTF) 2009-10
件名(キーワード) MOSFET
件名(キーワード) ばらつき
件名(キーワード) ランダムテレグラフシグナル
件名(キーワード) RTS
件名(キーワード) 時定数
件名(キーワード) トラップ
件名(キーワード) variability
件名(キーワード) Random Telegraph Signal
件名(キーワード) time constant
件名(キーワード) trap
NDLC ZN33
対象利用者 一般
資料の種別 記事・論文
掲載誌情報(URI形式) https://iss.ndl.go.jp/books/R100000002-I000000050569-00
掲載誌情報(ISSN形式) 09135685
掲載誌情報(ISSN-L形式) 09135685
掲載誌名 電子情報通信学会技術研究報告 : 信学技報
掲載巻 109
掲載号 257
掲載ページ 31~36
言語(ISO639-2形式) jpn : 日本語

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