イオン液体を用いた有...

イオン液体を用いた有機試料の二次イオン質量分析(SIMS) (特集 二次イオン質量分析法(SIMS)の最近の進歩と有機分析への応用)

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イオン液体を用いた有機試料の二次イオン質量分析(SIMS)(特集 二次イオン質量分析法(SIMS)の最近の進歩と有機分析への応用)

国立国会図書館請求記号
Z16-474
国立国会図書館書誌ID
029131077
資料種別
記事
著者
藤原 幸雄ほか
出版者
東京 : 日本表面科学会 ; 2018-
出版年
2018-07
資料形態
掲載誌名
表面と真空 = Vacuum and surface science / 日本表面科学会, 日本真空学会 編 61(7):2018.7
掲載ページ
p.446-451
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書誌情報

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デジタル

資料種別
記事
著者・編者
藤原 幸雄
齋藤 直昭
並列タイトル等
Secondary Ion Mass Spectrometry of Organic Materials Using Ionic Liquids
タイトル(掲載誌)
表面と真空 = Vacuum and surface science / 日本表面科学会, 日本真空学会 編
巻号年月日等(掲載誌)
61(7):2018.7
掲載巻
61
掲載号
7