駄目なテストのありが...

駄目なテストのありがち6パターン(第4回)テスト以前に問題 終盤で手戻り連発 テスト工程より前に原因も

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駄目なテストのありがち6パターン(第4回)テスト以前に問題 終盤で手戻り連発 テスト工程より前に原因も

国立国会図書館請求記号
Z14-B77
国立国会図書館書誌ID
029125246
資料種別
記事
著者
水谷 瑛子ほか
出版者
東京 : 日経BP社
出版年
2018-07
資料形態
掲載誌名
日経systems (303):2018.7
掲載ページ
p.76-81
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書誌情報

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デジタル

資料種別
記事
著者・編者
水谷 瑛子
榎 亮
タイトル(掲載誌)
日経systems
巻号年月日等(掲載誌)
(303):2018.7
掲載号
303
掲載ページ
76-81
掲載年月日(W3CDTF)
2018-07
ISSN(掲載誌)
1881-1620