Silicon-on-insulatorデバイスにおける低温チャージポンピング (電子デバイス)

Silicon-on-insulatorデバイスにおける低温チャージポンピング

(電子デバイス)

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資料種別: 記事
タイトル: Silicon-on-insulatorデバイスにおける低温チャージポンピング
著者・編者: 渡邉時暢
堀匡寛
小野行徳
シリーズタイトル: 電子デバイス
著者標目: 渡邉時暢
堀匡寛
小野行徳
並列タイトル等: Low-temperature charge pumping on silicon-on-insulator devices
タイトル（掲載誌）: 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
巻号年月日等（掲載誌）: 117(453):2018.2.28
掲載巻: 117
掲載号: 453
掲載ページ: 51-56
掲載年月日（W3CDTF）: 2018-02-28
ISSN（掲載誌）: 0913-5685
ISSN-L（掲載誌）: 0913-5685
出版事項（掲載誌）: 東京 : 電子情報通信学会
出版地（国名コード）: JP
本文の言語コード: jpn
件名標目: チャージポンピング
界面欠陥
SOI
低温
charge pumping
interface defects
low-temperature
NDLC: ZN33
対象利用者: 一般
レポート番号（雑誌記事）: ED2017-115
所蔵機関: 国立国会図書館
請求記号: Z16-940
連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館雑誌記事索引
https://ndlsearch.ndl.go.jp
書誌ID（NDLBibID）: 028876900
http://id.ndl.go.jp/bib/028876900
整理区分コード: 632