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資料種別 記事・論文

表面電位顕微鏡を用いたナノ材料ゼーベック係数測定手法の開発

鈴木 悠平,岡 晃人,川合 健斗,立岡 浩一,猪川 洋,下村 勝,村上 健司,ファイズ サレ,池田 浩也

詳細情報

タイトル 表面電位顕微鏡を用いたナノ材料ゼーベック係数測定手法の開発
著者 鈴木 悠平
著者 岡 晃人
著者 川合 健斗
著者 立岡 浩一
著者 猪川 洋
著者 下村 勝
著者 村上 健司
著者 ファイズ サレ
著者 池田 浩也
シリーズ名 電子デバイス
出版地(国名コード) JP
別タイトル Construction of Seebeck coefficient evaluation technique by Kelvin-probe force microscopy
出版年(W3CDTF) 2018-02-28
件名(キーワード) 熱電変換
件名(キーワード) ナノ構造
件名(キーワード) ゼーベック係数
件名(キーワード) 表面電位顕微鏡 (KFM)
件名(キーワード) thermoelectrics
件名(キーワード) nanostructure
件名(キーワード) Seebeck coefficient
件名(キーワード) Kelvin-probe force microscopy (KFM)
NDLC ZN33
対象利用者 一般
資料の種別 記事・論文
掲載誌情報(URI形式) https://iss.ndl.go.jp/books/R100000002-I000000050569-00
掲載誌情報(ISSN形式) 09135685
掲載誌情報(ISSN-L形式) 09135685
掲載誌名 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
掲載巻 117
掲載号 453
掲載ページ 27-30
言語(ISO639-2形式) jpn : 日本語

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