ブラッグ波長離調を用いた半導体薄膜DFB/DRレーザのしきい値電流温度依存性 (信頼性)

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ブラッグ波長離調を用いた半導体薄膜DFB/DRレーザのしきい値電流温度依存性

(信頼性)

国立国会図書館請求記号
Z16-940
国立国会図書館書誌ID
028509128
資料種別
記事
著者
井上 大輔ほか
出版者
東京 : 電子情報通信学会
出版年
2017
資料形態
掲載誌名
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 117(191):2017.8.31・9.1
掲載ページ
p.51-54
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書誌情報

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資料種別
記事
著者・編者
井上 大輔
福田 快
平谷 拓生
冨安 高弘
瓜生 達也
雨宮 智宏
西山 伸彦
荒井 滋久
シリーズタイトル
並列タイトル等
Temperature dependance of threshold current of membrane DFB/DR lasers using Bragg wavelength detuning
タイトル(掲載誌)
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
巻号年月日等(掲載誌)
117(191):2017.8.31・9.1
掲載巻
117
掲載号
191