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資料種別 記事・論文

標準CMOSプロセスで作製されたAPDの受光特性の波長依存性

飯山 宏一,ズル アトフィ ファウザン モハメド ナピア,菱木 拓哉

詳細情報

タイトル 標準CMOSプロセスで作製されたAPDの受光特性の波長依存性
著者 飯山 宏一
著者 ズル アトフィ ファウザン モハメド ナピア
著者 菱木 拓哉
シリーズ名 レーザ・量子エレクトロニクス
出版地(国名コード) JP
別タイトル Wavelength-dependent photodetection characteristics of APDs fabricated by standard CMOS process
出版年(W3CDTF) 2016-05
件名(キーワード) 光検出器
件名(キーワード) アバランシェ光検出器
件名(キーワード) CMOSプロセス
件名(キーワード) Photodiode
件名(キーワード) Avalanche photodiode
件名(キーワード) CMOS process
NDLC ZN33
対象利用者 一般
資料の種別 記事・論文
掲載誌情報(URI形式) https://iss.ndl.go.jp/books/R100000002-I000000050569-00
掲載誌情報(ISSN形式) 09135685
掲載誌情報(ISSN-L形式) 09135685
掲載誌名 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
掲載巻 116
掲載号 52
掲載ページ 37-41
言語(ISO639-2形式) jpn : 日本語

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