ミュオンによる材料評...

ミュオンによる材料評価 : 通常のバルク試料~超低速ミュオンによる薄膜測定まで (磁性材料の作製と評価手法 : 大型実験施設を用いた材料評価)

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ミュオンによる材料評価 : 通常のバルク試料~超低速ミュオンによる薄膜測定まで

(磁性材料の作製と評価手法 : 大型実験施設を用いた材料評価)

国立国会図書館請求記号
Z43-594
国立国会図書館書誌ID
026037912
資料種別
記事
著者
小嶋 健児
出版者
東京 : 日本磁気学会
出版年
2015-01
資料形態
掲載誌名
社団法人日本磁気学会研究会資料 = Bulletin of Topical Symposium of the Magnetics Society of Japan 200:2015.1.13・14
掲載ページ
p.23-28
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書誌情報

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資料種別
記事
著者・編者
小嶋 健児
著者標目
並列タイトル等
Characterization of magnetic materials using muons : from bulk specimen to thin films utilizing ultra-slow muons
タイトル(掲載誌)
社団法人日本磁気学会研究会資料 = Bulletin of Topical Symposium of the Magnetics Society of Japan
巻号年月日等(掲載誌)
200:2015.1.13・14
掲載巻
200
掲載ページ
23-28