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資料種別 記事・論文

遅延故障BIST向けLFSRシード生成法

本田 太郎,大竹 哲史

詳細情報

タイトル 遅延故障BIST向けLFSRシード生成法
著者 本田 太郎
著者 大竹 哲史
シリーズ名 VLSI設計技術 デザインガイア2013 : VLSI設計の新しい大地
出版地(国名コード) JP
別タイトル A Method of LFSR Seed Generation for Delay Fault BIST
出版年(W3CDTF) 2013-11
件名(キーワード) BIST
件名(キーワード) 遷移故障
件名(キーワード) シード生成
件名(キーワード) テスト生成制約
件名(キーワード) delay fault
件名(キーワード) seed generation
件名(キーワード) constrained test generation
NDLC ZN33
対象利用者 一般
資料の種別 記事・論文
掲載誌情報(URI形式) https://iss.ndl.go.jp/books/R100000002-I000000050569-00
掲載誌情報(ISSN形式) 09135685
掲載誌情報(ISSN-L形式) 09135685
掲載誌名 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
掲載巻 113
掲載号 320
掲載ページ 227-231
言語(ISO639-2形式) jpn : 日本語

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