データマイニング手法によるバーンインテスト結果予測の検討 (VLSI設計技術 デザインガイア2013 : VLSI設計の新しい大地)

記事を表すアイコン

データマイニング手法によるバーンインテスト結果予測の検討

(VLSI設計技術 デザインガイア2013 : VLSI設計の新しい大地)

国立国会図書館請求記号
Z16-940
国立国会図書館書誌ID
025089602
資料種別
記事
著者
野々山 聡ほか
出版者
東京 : 電子情報通信学会
出版年
2013-11
資料形態
掲載誌名
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 113(320):2013.11.27-29
掲載ページ
p.221-226
すべて見る

書誌情報

この資料の詳細や典拠(同じ主題の資料を指すキーワード、著者名)等を確認できます。

資料種別
記事
著者・編者
野々山 聡
佐藤 康夫
梶原 誠司 他
並列タイトル等
A Study of Burn-In Test Prediction by Data Mining
タイトル(掲載誌)
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
巻号年月日等(掲載誌)
113(320):2013.11.27-29
掲載巻
113
掲載号
320