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資料種別 記事・論文

散乱X線の理論強度を用いるSnめっき中Pbの蛍光X線分析 : EDXによるRoHS指令元素の蛍光X線分析

小川 理絵,越智 寛友,市丸 直人 他

詳細情報

タイトル 散乱X線の理論強度を用いるSnめっき中Pbの蛍光X線分析 : EDXによるRoHS指令元素の蛍光X線分析
著者 小川 理絵
著者 越智 寛友
著者 市丸 直人 他
出版地(国名コード) JP
別タイトル X-ray Fluorescence Analysis of Lead in Tin Plating Using Theoretical Intensity of Scattered X-rays : Analysis of RoHS Regulated Elements by Energy Dispersive X-ray Fluorescence Spectrometer (EDX)
出版年(W3CDTF) 2012
件名(キーワード) X-ray fluorescence analysis
件名(キーワード) Theoretical intensity
件名(キーワード) Scattered X-rays
件名(キーワード) RoHS
件名(キーワード) RoHS regulated elements
件名(キーワード) EDX (Energy dispersive X-ray fluorescence spectrometer)
NDLC ZN11
対象利用者 一般
資料の種別 記事・論文
掲載誌情報(URI形式) https://iss.ndl.go.jp/books/R100000002-I000000010386-00
掲載誌情報(ISSN形式) 0371005X
掲載誌情報(ISSN-L形式) 0371005X
掲載誌名 島津評論 / 島津評論編集部 [編]
掲載巻 69
掲載号 1・2
掲載通号 217
掲載ページ 181-188
言語(ISO639-2形式) jpn : 日本語

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