Optical metrology and inspection for industrial applications : 18-20 October 2010 : Beijing, China. : Oct 2010, Beijing, China. (SPIE Proceedings ; 7855)

Optical metrology and inspection for industrial applications : 18-20 October 2010 : Beijing, China. : Oct 2010, Beijing, China.

(SPIE Proceedings ; 7855)

国立国会図書館請求記号: M17-11-997
国立国会図書館書誌ID: 000011108870

資料種別: 図書

著者: Beijing Institute of Technology.

出版者: SPIE

出版年: c2010.

資料形態: 紙

ページ数・大きさ等: 1 v. (various pagings) : ill. ; 28 cm.

NDC: -

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一般注記：: Papers.

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書誌情報

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紙

資料種別: 図書
ISBN: 9780819483850
ISSN（シリーズ）: 0277-786X
タイトル: Optical metrology and inspection for industrial applications : 18-20 October 2010 : Beijing, China. : Oct 2010, Beijing, China.
シリーズタイトル: SPIE Proceedings ; 7855
著者標目: Beijing Institute of Technology.
出版事項: Bellingham : SPIE
出版年月日等: c2010.
出版年（W3CDTF）: 2010
数量: 1 v. (various pagings) : ill. ; 28 cm.
並列タイトル等: SPIE/COS photonics Asia
出版地（国名コード）: US
NDLC: M17
一般注記: Papers.
書誌注記: Includes bibliographical references and author index.
所蔵機関: 国立国会図書館
請求記号: M17-11-997
連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書
https://ndlsearch.ndl.go.jp
書誌ID（NDLBibID）: 000011108870
http://id.ndl.go.jp/bib/000011108870
整理区分コード: 215