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資料種別 会議録

Optical metrology and inspection for industrial applications : 18-20 October 2010 : Beijing, China. : Oct 2010, Beijing, China

詳細情報

タイトル Optical metrology and inspection for industrial applications : 18-20 October 2010 : Beijing, China. : Oct 2010, Beijing, China
シリーズ名 SPIE Proceedings, 7855
出版地(国名コード) US
出版地Bellingham
出版社SPIE
出版年 2010
大きさ、容量等 1 v. (various pagings) : ill. ; 28 cm
注記 Papers
注記 Includes bibliographical references and author index
ISBN 9780819483850
ISSN 0277786X
別タイトル SPIE/COS photonics Asia
出版年月日等 c2010
NDLC M17
資料の種別 図書
資料の種別 会議録

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