図書

Analytical techniques for semiconductor materials and process characterization 6 : (ALTECH 2009). : ALTECH 2009 symposium on "analytical techniques for semiconductor materials and process characterization 6" : 216th meeting of the Electrochemical Society : ECS Vienna meeting : Oct 2009, Vienna, Austria. (ECS Transactions ; 25 (no. 3))

図書を表すアイコン

Analytical techniques for semiconductor materials and process characterization 6 : (ALTECH 2009). : ALTECH 2009 symposium on "analytical techniques for semiconductor materials and process characterization 6" : 216th meeting of the Electrochemical Society : ECS Vienna meeting : Oct 2009, Vienna, Austria.

(ECS Transactions ; 25 (no. 3))

国立国会図書館請求記号
M17-10-1626
国立国会図書館書誌ID
000010654173
資料種別
図書
著者
Electrochemical Society. Electronics and Photonics Division. European Committee.
出版者
Electrochemical Society
出版年
c2009.
資料形態
ページ数・大きさ等
x, 465 p. : ill. ; 24 cm.
NDC
-
すべて見る

資料に関する注記

一般注記:

Papers."The ALTECH 2009 symposium (...) It is the sixth symposium in a series of symposia (...) " -- pref.

書店で探す

書誌情報

この資料の詳細や典拠(同じ主題の資料を指すキーワード、著者名)等を確認できます。

資料種別
図書
ISBN
9781566777407 (Hardcover)
9781607680901 (PDF)
ISSN
1938-6737 (online)
ISSN(シリーズ)
1938-5862 (print)
シリーズタイトル
出版年月日等
c2009.
出版年(W3CDTF)
2009