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資料種別 マイクロ資料

Analog-digital simulation of transient-induced logic errors and upset susceptibility of an advanced control system [microform] / Victor A. Carreno, G. Choi and R.K. Iyer

詳細情報

タイトル Analog-digital simulation of transient-induced logic errors and upset susceptibility of an advanced control system [microform] / Victor A. Carreno, G. Choi and R.K. Iyer
シリーズ名 NASA technical memorandum ; 4241
出版地(国名コード) US
出版年 1990
大きさ、容量等 microfiche ; 11 × 15 cm
注記 Distributed to depository libraries in microfiche
注記 Physical description for original version: 1 v
注記 原資料の出版事項: [Washington, DC] ; [Springfield, Va. : National Aeronautics and Space Administration, Office of Management, Scientific and Technical Information Division : National Technical Information Service, distributor], 1990
注記 SUPTDOC番号: NAS 1.15: 4241
注記 GPO管理番号: 0830-D (MF)
WorldCatへのリンク 32366190
別タイトル Analog digital simulation of transient induced logic errors and upset susceptibility of an advanced control system
件名(キーワード) Analog simulation
件名(キーワード) Digital simulation
件名(キーワード) Error analysis
件名(キーワード) Fault tolerance
件名(キーワード) Latch-up
件名(キーワード) Logic programming
件名(キーワード) Single event upsets
資料の種別 図書
資料の種別 マイクロ資料
言語(ISO639-2形式) eng : English

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