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資料種別 マイクロ資料

Design and testing guides for the CMOS and lateral bipolar-on-SOI test library [microform] / Janet C. Marshall and Mona E. Zaghloul

詳細情報

タイトル Design and testing guides for the CMOS and lateral bipolar-on-SOI test library [microform] / Janet C. Marshall and Mona E. Zaghloul
シリーズ名 Semiconductor measurement technology
シリーズ名 NIST special publication ; 400-93
出版地(国名コード) US
出版年 1994
大きさ、容量等 microfiche ; 11 × 15 cm
注記 Distributed to depository libraries in microfiche
注記 Shipping list no.: 94-0625-M
注記 "March 1994."
注記 Physical description for original version: vi, 132 p.
注記 Includes bibliographical references (p. 17-18)
注記 原資料の出版事項: Gaithersburg, MD ; Washington : U.S. Dept. of Commerce, Technology Administration, National Institute of Standards and Technology : For sale by the Supt. of Docs., U.S. G.P.O., 1994
注記 SUPTDOC番号: C 13.10: 400-93
注記 GPO管理番号: 0247 (MF)
WorldCatへのリンク 31438918
件名(キーワード) Silicon-on-insulator technology -- Testing
件名(キーワード) Metal oxide semiconductors, Complementary -- Testing
資料の種別 図書
資料の種別 マイクロ資料
言語(ISO639-2形式) eng : English

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