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資料種別 マイクロ資料

Version 2.0 of the TXYZ thermal analysis program, TXYZ20 [microform] / John Albers

詳細情報

タイトル Version 2.0 of the TXYZ thermal analysis program, TXYZ20 [microform] / John Albers
シリーズ名 Semiconductor measurement technology
シリーズ名 NIST special publication ; 400-89
出版地(国名コード) US
出版年 1992
大きさ、容量等 microfiche ; 11 × 15 cm
注記 Distributed to depository libraries in microfiche
注記 Shipping list no.: 92-2593-M
注記 Paper version no longer for sale by the Supt. of Docs
注記 "June 1992."
注記 Physical description for original version: iii, 29 p. ; 28 cm
注記 Includes bibliographical references (p. 18)
注記 原資料の出版事項: Gaithersburg, MD : U.S. Dept. of Commerce, Technology Administration, National Institute of Standards and Technology, 1992
注記 SUPTDOC番号: C 13.10: 400-89
注記 GPO管理番号: 0247 (MF)
WorldCatへのリンク 29708398
件名(キーワード) Semiconductors -- Thermal properties
件名(キーワード) Thermal analysis -- Computer programs
資料の種別 図書
資料の種別 マイクロ資料
言語(ISO639-2形式) eng : English

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