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資料種別 マイクロ資料

A programmable reverse-bias safe operating area transistor tester [microform] / D.W. Berning

詳細情報

タイトル A programmable reverse-bias safe operating area transistor tester [microform] / D.W. Berning
シリーズ名 NIST special publication ; 400-87
シリーズ名 Semiconductor measurement technology
出版地(国名コード) US
出版年 1990
大きさ、容量等 microfiche ; 11 × 15 cm
注記 Distributed to depository libraries in microfiche
注記 Shipping list no.: 92-1526-M
注記 Paper version no longer for sale by the Supt. of Docs
注記 "August 1990."
注記 "CODEN: NSPUE2"--T.p. verso
注記 Physical description for original version: iv, 54 p. : 28 cm
注記 Includes bibliographical references (p. 54)
注記 原資料の出版事項: Gaithersburg, MD ; [Springfield, VA : U.S. Dept. of Commerce, National Institute of Standards and Technology : Order from National Technical Information Service], 1990
注記 SUPTDOC番号: C 13.10: 400-87
注記 GPO管理番号: 0247 (MF)
WorldCatへのリンク 26904567
別タイトル Programmable reverse bias safe operating area transistor tester
件名(キーワード) Transistors -- Testing
資料の種別 図書
資料の種別 マイクロ資料
言語(ISO639-2形式) eng : English

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