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Database for and statistical analysis of the interlaboratory determination of the conversion coefficient for the measurement of the interstitial oxygen content of silicon by infrared absorption / Aslan Baghdadi, Robert I. Scace, and E. Jane Walters, editors (Semiconductor measurement technology) (NIST special publication ; 400-82)

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Database for and statistical analysis of the interlaboratory determination of the conversion coefficient for the measurement of the interstitial oxygen content of silicon by infrared absorption / Aslan Baghdadi, Robert I. Scace, and E. Jane Walters, editors

(Semiconductor measurement technology) (NIST special publication ; 400-82)

国立国会図書館請求記号
YCA-C 13.10:400-82
国立国会図書館書誌ID
000006577520
資料種別
図書
著者
Baghdadi, Aslanほか
出版者
-
出版年
1989
資料形態
マイクロ
ページ数・大きさ等
microfiche ; 11 × 15 cm
NDC
-
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資料に関する注記

一般注記:

G.P.O. sale statement incorrect in publicationDistributed to depository libraries in microfiche"July 1989."...

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書誌情報

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マイクロ

資料種別
図書
出版年(W3CDTF)
1989
数量
microfiche
大きさ
11 × 15 cm
出版地(国名コード)
US
本文の言語コード
eng
資料種別(注記)
[microform]