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Where excellence and preparedness meet microform : increased course requirements and at-risk students : Effects of testing reforms and standards and school dropouts project / James S. Catterall and David Moody

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Where excellence and preparedness meet microform : increased course requirements and at-risk students : Effects of testing reforms and standards and school dropouts project / James S. Catterall and David Moody

国立国会図書館請求記号
YCA-ED 1.310/2:330758
国立国会図書館書誌ID
000006574845
資料種別
図書
著者
Catterall, James Sほか
出版者
-
出版年
1990
資料形態
マイクロ
ページ数・大きさ等
microfiche ; 11 × 15 cm
NDC
-
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資料に関する注記

一般注記:

Distributed to depository libraries in microficheShipping list no.: 92-1601-MPhysical description for original version: 1 v

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書誌情報

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マイクロ

資料種別
図書
出版年(W3CDTF)
1990
数量
microfiche
大きさ
11 × 15 cm
並列タイトル等
Effects of testing reforms and standards and school dropouts project
Center for Research on Evaluation, Standards, and Student Testing, final deliverable
出版地(国名コード)
US
本文の言語コード
eng
資料種別(注記)
[microform]